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BS.14550140X-带有延迟故障测试功能的内嵌自测试电路- 北京自动测试技术研究所

2014年10月10日，国家知识产权局在集成电路布图设计专用权公告中公布了登记号为 BS.14550140X的集成电路，该集成电路名称为带有延迟故障测试功能的内嵌自测试电路，由北京自动测试技术研究所作为布图设计权利人。

集成电路布图设计专用权公告具体内容如下：

布图设计登记号：

BS.14550140X

布图设计申请日：

2014年06月30日

公告日期：

2014年10月10日

公开（公告）号：

9620

布图设计名称：

带有延迟故障测试功能的内嵌自测试电路

布图设计结构：

MOS

布图设计技术：

CMOS

布图设计功能：

逻辑

布图设计权利人：

北京自动测试技术研究所

布图设计权利人国籍：

中国

布图设计创作人：

姜岩峰、张东、李瑞麟、韩兵兵、王鑫

布图设计创作完成日：

2014年02月28日

代理人：

陈曦

代理机构：

北京汲智翼成知识产权代理事务所（普通合伙）

商业用途开始日期：

-

布图设计权利人地址：

北京市海淀区北京市海淀区北三环中路31号

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