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BS.135005469-MCU内部晶振测试芯片- 北京南瑞智芯微电子科技有限公司

2013年09月06日，国家知识产权局在集成电路布图设计专用权公告中公布了登记号为 BS.135005469的集成电路，该集成电路名称为 MCU内部晶振测试芯片，由北京南瑞智芯微电子科技有限公司作为布图设计权利人。

集成电路布图设计专用权公告具体内容如下：

布图设计登记号：

BS.135005469

布图设计申请日：

2013年05月29日

公告日期：

2013年09月06日

公开（公告）号：

7635

布图设计名称：

MCU内部晶振测试芯片

布图设计结构：

MOS

布图设计技术：

CMOS

布图设计功能：

逻辑

布图设计权利人：

北京南瑞智芯微电子科技有限公司

布图设计权利人国籍：

北京

布图设计创作人：

胡旭

布图设计创作完成日：

2013年03月10日

代理人：

-

代理机构：

-

商业用途开始日期：

-

布图设计权利人地址：

北京市海淀区（清河小营）西小口路66号东升科技园A区3号楼

北京南瑞智芯微电子科技有限公司的其他集成电路

同日公布集成电路设计

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